
產(chǎn)品分類
products category
技術(shù)文章/ article
(1)X射線CT成像算法與軟件俐瑪工業(yè)CT采用的核心技術(shù)是自有X射線CT成像算法與軟件,該技術(shù)可根據(jù)用戶需求定制掃描工藝與流程,能夠完成自動(dòng)訓(xùn)機(jī),探測(cè)器偏置、增益、非線性、像元不一致性校準(zhǔn),自動(dòng)識(shí)別和校正壞像元等。(2)工業(yè)CT的高精度俐瑪智能三維CT測(cè)量系統(tǒng),精度達(dá)到0.5um。直接對(duì)標(biāo)國(guó)際歐美品牌,自有核心軟件算法。在GJB5312中像素定義為構(gòu)成工業(yè)CT圖像的基本單元。工業(yè)CT設(shè)備的檢測(cè)精度就是像素尺寸大小。在工業(yè)CT中得到的圖像實(shí)際反映物體一個(gè)三維體層的情況。體素是指...
x-ray檢測(cè)設(shè)備原理1、作為七種常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方式,Xray檢測(cè)技術(shù)也已當(dāng)在工業(yè)之中得到應(yīng)用。2、依據(jù)SMT在我看來(lái)定義,射線幾類測(cè)試主要包括分為五個(gè)類別。3、動(dòng)態(tài)成像測(cè)試與及斷層成像。4、X射線與太陽(yáng)光特別是在本質(zhì)上能是沒(méi)有區(qū)別的的,有機(jī)體全都屬于電磁波,然而X射線量子在我看來(lái)能量遠(yuǎn)大于可見(jiàn)光,能夠穿透可見(jiàn)光無(wú)法穿透總之物體,可和物質(zhì)發(fā)生復(fù)雜的的物理以及化學(xué)反應(yīng)。6、圖等為xray檢測(cè)運(yùn)行原理圖。7、XRAY檢測(cè)設(shè)備這樣裝備首要是利用X光射線和穿透作用,X光射線波長(zhǎng)竊竊私語(yǔ)...
x_ray檢測(cè)的作用1、X射線設(shè)備使用高壓加速電子來(lái)釋放X射線,這種X射線會(huì)穿透樣品而是留下圖像。2、技術(shù)人員經(jīng)由圖像的亮度觀察樣品的相關(guān)細(xì)節(jié)。3、這個(gè)會(huì)檢測(cè)到數(shù)項(xiàng)出現(xiàn)異常,例如PCB電路斷開(kāi),IC缺陷,焊球開(kāi)裂。4、X射線設(shè)備次要利用X射線的穿透作用。5、X射線的波長(zhǎng)短,能量大。6、假如它照射到物質(zhì)上才,而此物質(zhì)只能吸收少部分,甚至絕大部分X射線。7、射線的能量以令穿過(guò)物質(zhì)原子間的間隙,顯示出強(qiáng)大的穿透能力。8、X射線設(shè)備經(jīng)由X射線穿透要測(cè)試的樣品,不一會(huì)兒并令X射線圖像映...
半導(dǎo)體封裝檢測(cè)是作為集成電路的最后一個(gè)工藝中很關(guān)鍵的一環(huán),在封裝的過(guò)程中制造商需要將電路管芯安裝在基板上并將管腳引出來(lái)封裝成一個(gè)整體,再用導(dǎo)線將硅芯片上的電路管芯引到外部接頭,以供與其他元器件連接,目前半導(dǎo)體封裝有多種形式,其中按封裝的外形、尺寸、結(jié)構(gòu)分為引腳插入型、表面貼裝和高級(jí)封裝三大類,都各有各的應(yīng)用領(lǐng)域。中國(guó)這些年的快速發(fā)展,也出現(xiàn)了很多比較優(yōu)秀的企業(yè),像封測(cè)領(lǐng)域的長(zhǎng)電科技,華天科技,通富微電等企業(yè)實(shí)力都非常強(qiáng),甚至在全球領(lǐng)域看都是能叫得上名號(hào)。隨著半導(dǎo)體封測(cè)的發(fā)展,...
IC芯片X-RAY檢測(cè)設(shè)備是專門(mén)用來(lái)給IC芯片檢測(cè)其內(nèi)部缺陷的一款無(wú)損檢測(cè)設(shè)備。IC芯片比較精密主要由微型電子器件或部件構(gòu)成,采用一定的工藝,把一個(gè)電路中所需的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上,然后封裝在一個(gè)管殼內(nèi),成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu)。其中所有元件在結(jié)構(gòu)上已組成一個(gè)整體,使電子元件向著微小型化、低功耗和高可靠性方面邁進(jìn)了一大步。但越精密的電路,檢測(cè)難度就越復(fù)雜。當(dāng)前芯片檢驗(yàn)的常用方法通常是將芯片層層剝...
探險(xiǎn)者EXPLORER便攜式X熒光光譜儀是天瑞儀器結(jié)合10年便攜式研發(fā)經(jīng)驗(yàn),集中了光電子、微電子、半導(dǎo)體和計(jì)算機(jī)等多項(xiàng)技術(shù),研制出具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的,全新一代便攜式XRF產(chǎn)品。EXPLORER500便攜式X熒光合金分析儀是最先使用全新大屏高分辨率液品顯示屏及新型數(shù)字多道數(shù)據(jù)處理器的便攜式合金分析儀。超低的檢出限使便攜式分析儀的性能媲美臺(tái)式機(jī);儀器體積小,重量輕,可隨身攜帶進(jìn)行測(cè)量,適用于各類型合金樣品的分析。合金行業(yè)應(yīng)用貴金屬合金鍋爐壓力容器鋼鐵冶煉航天工業(yè)廢舊金屬回收船舶制...
EDX2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動(dòng)微區(qū)膜厚測(cè)試儀)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦精準(zhǔn)分析,滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。通過(guò)自動(dòng)化的X軸Y軸Z軸的三維移動(dòng),雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng)。應(yīng)用領(lǐng)域電鍍行業(yè)、電子通訊、航天新能源、五金衛(wèi)浴、電器設(shè)備汽車制造、磁性材料、貴金屬電鍍、高校及科研院所等超高硬件配置采用Fast-SDD探測(cè)器,高達(dá)129eV分辨率,能精準(zhǔn)地解析每個(gè)元素的特征信號(hào),針對(duì)復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層,...
快速熱裂解RoHS檢測(cè)儀,是天瑞儀器精心打造,適用于2019年新版RoHS2.0指令(EU2015/863)中鄰苯二甲酸酯4P(DIBP、DBP、BBP、DEHP)的快速篩查檢測(cè)。該儀器工作原理為:裂解系統(tǒng)高溫加熱樣品使其裂解,待測(cè)樣品變成裂解氣后,再由載氣將其帶入GC單元,經(jīng)色譜柱分離,最后通過(guò)FID檢測(cè)器進(jìn)行高精度定性定量分析。應(yīng)用領(lǐng)域玩具、電子、食品、包裝材料、醫(yī)療器械塑料、橡膠、粘合劑、纖維素、樹(shù)脂、電纜等行業(yè)的塑化劑篩查檢測(cè)。產(chǎn)品特點(diǎn)簡(jiǎn)化或者避免環(huán)評(píng),無(wú)需樣品前處理...
氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀GC-MS6800是集氣相色譜(GC)的分離功能和質(zhì)譜(MS)的檢測(cè)功能于一體的裝置,也是檢測(cè)化合物是什么(定性)、有多少(定量)的分析儀器??蓮V泛應(yīng)用于環(huán)境保護(hù)、食品安全、電子行業(yè)、香精香料行業(yè)、紡織品行業(yè)、石油化工、醫(yī)藥行業(yè)、司法鑒定等領(lǐng)域。環(huán)境中有機(jī)污染物分析(空氣、水質(zhì)、土壤中污染分析);食品中農(nóng)殘、添加劑分析;電子電器行業(yè)中的有害物質(zhì)檢測(cè);香精香料香氣成分分析。技術(shù)優(yōu)勢(shì)硬件自主研發(fā)的GC系統(tǒng),帶電子流量和電子壓力控制(EFC、EPC)自主研發(fā)燈絲,...
探險(xiǎn)者EXPLORER便攜式X熒光有害元素分析儀是天瑞儀器結(jié)合10年手持式XRF技術(shù)研發(fā)經(jīng)驗(yàn),集中了光電子、微電子、半導(dǎo)體和計(jì)算機(jī)等多項(xiàng)技術(shù),研制出具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的全新一代便攜式XRF產(chǎn)品。EXPLORER3000便攜式X熒光有害元素分析儀是天瑞儀器針對(duì)RoHS行業(yè)特別研發(fā)設(shè)計(jì)的便攜檢測(cè)分析儀。儀器引入數(shù)字多道技術(shù),使檢出限更低,穩(wěn)定性更高,適用面更廣,性能媲美臺(tái)式機(jī);小巧便攜的體積使檢測(cè)工作更簡(jiǎn)單、更輕松。在歐盟玩具指令頒布實(shí)施后,天瑞XRF系列產(chǎn)品迅速成為玩具生產(chǎn)商進(jìn)行...
EDX1800BRoHS測(cè)試儀就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通??煞譃閮纱箢悾ㄩL(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀和能量色散X射線熒光光譜儀,波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件,相對(duì)簡(jiǎn)單。待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。為獲得樣品的定性和定量信息,除光譜儀外,還必須采用一定的樣品制備技術(shù)...
工業(yè)CT掃描檢測(cè)和X射線檢測(cè)是目前常用的無(wú)損檢測(cè)方案,兩種方案檢測(cè)都是以X射線的高穿透性穿透物質(zhì)原理來(lái)探測(cè)物體內(nèi)部的結(jié)構(gòu)。X射線具有十分強(qiáng)力的穿透性,能夠透過(guò)很多物質(zhì),利用這種特性而誕生了許多的無(wú)損檢測(cè)設(shè)備。工業(yè)CT掃描是結(jié)合X-ray檢測(cè)的方法延伸出來(lái)的一種新的方向,CT即三維X射線掃描,在進(jìn)行X射線掃描檢測(cè)的時(shí)候,講待測(cè)的物體進(jìn)行旋轉(zhuǎn)掃描檢測(cè),收集其每個(gè)角度下的掃描成像,然后利用電腦運(yùn)算重構(gòu)出物體的實(shí)體圖像。由此可以看出,X射線的檢測(cè)結(jié)果是二維圖像,工業(yè)CT則是充分利用了...
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